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原子力显微镜

/atomic force microscope; AFM/

最后更新 2023-08-19

浏览 303次

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纳米级高分辨的扫描探针显微镜。是在纳米尺度操作材料，实现成像和测量的重要工具。又称扫描力显微镜。

英文名称: atomic force microscope; AFM

又称: 扫描力显微镜

所属学科: 电子科学与技术

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