文献引用
复制
首页
[{"ID":42423,"Name":"工学"},{"ID":84231,"Name":"航空宇航科学与技术"},{"ID":116415,"Name":"航天"},{"ID":198064,"Name":"航天综合电子技术"},{"ID":198095,"Name":"航天微电子"},{"ID":198114,"Name":"集成电路"}]
单粒子功能中断
/single event functional interrupt；SEFI/
最后更新 2023-06-09
浏览 342次
质子或重离子入射时引起器件的控制逻辑出现故障，进而中断正常的控制功能的现象。是一种单粒子效应。
- 英文名称
- single event functional interrupt；SEFI
- 所属学科
- 航空宇航科学与技术
京公网安备 11010202008139号
