文献引用
复制
首页
[{"ID":42422,"Name":"理学"},{"ID":77124,"Name":"地质学/地质资源与地质工程"},{"ID":77282,"Name":"地质资源与地质工程总论"},{"ID":77387,"Name":"地质实验分析"},{"ID":77390,"Name":"岩石矿物鉴定"}]
光薄片鉴定
/identification of polished thin sections/
最后更新 2022-01-20
浏览 279次
在光学显微镜下，对光片或薄片中的物质进行系统观察、测量，确定矿物、岩石、矿石和化石的种类、含量和其他特征的工作。
- 英文名称
- identification of polished thin sections
- 所属学科
- 地质学/地质资源与地质工程
京公网安备 11010202008139号
