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[{"ID":42422,"Name":"理学"},{"ID":62083,"Name":"化学"},{"ID":62084,"Name":"分析化学"},{"ID":62164,"Name":"【光化学分析法】"},{"ID":62173,"Name":"质谱分析"}]
二次离子质谱
/secondary ion mass spectrometry; SIMS/
最后更新 2024-12-11
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通过初级离子束轰击样品表面产生二次（次级）离子进行物质组成和结构分析的质谱分析法。
- 英文名称
- secondary ion mass spectrometry; SIMS
- 所属学科
- 化学
京公网安备 11010202008139号
