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[{"ID":42423,"Name":"工学"},{"ID":84232,"Name":"核技术"},{"ID":163610,"Name":"空间核技术"},{"ID":217916,"Name":"材料辐照效应"},{"ID":217919,"Name":"单粒子翻转效应"}]
单粒子翻转效应
/single event upset，SEU/
最后更新 2022-12-23
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空间中存在着的大量高能带电粒子射入半导体器件的灵敏区，导致器件逻辑状态翻转（储存单元由0变为1，或由1变为0）的现象。会导致系统功能紊乱，严重时可能发生灾难性事故。
- 英文名称
- single event upset，SEU
- 所属学科
- 核技术
京公网安备 11010202008139号
